永久免费看mv网站入口智能卡動態彎扭試驗機產品用途（tú）：

用於檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡（kǎ），等卡的彎曲和扭曲性能測（cè）試。自主設計完全按標準執行雙向扭（niǔ）轉測試（shì）。

本儀器針對性IC卡在國標GB/T 16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標（biāo）準等試驗標準中的彎曲、扭矩的（de）試驗（yàn）; 完全符合以上標準。

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W

測試速度：彎（wān）曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期（qī）：1~9999次

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°，總扭曲角度30°

長邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊小（xiǎo）位移量為2mm±0.50mm，

短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

長邊小位移量為（wéi）1mm±0.50mm，

夾具安裝尺寸完全按照國家標準執行。

長邊（biān）彎曲工位數：5工位

短邊（biān）彎曲工位數（shù）：5工位

雙向扭轉工位數：5工位

儀器加罩前的尺寸是：

長（zhǎng）：74.5cm，寬：38cm 高：30cm